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发表于 2009-8-7 11:03 | 显示全部楼层
楼主能否说说电源的处理,电压多大?电容选什么型号的,多大合适?

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 楼主| 发表于 2009-8-7 11:16 | 显示全部楼层
300W的牛,整流出来是双35V,负载时在32-33V间
电容暂时用的是15000UF两只,有条件搞更好才好.电源影响会大.

这玩样,电源尽量搞好点.

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发表于 2009-8-7 11:19 | 显示全部楼层
楼主用什么型号的电容?
我觉得电容对最终的失真有较大影响。

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 楼主| 发表于 2009-8-7 11:26 | 显示全部楼层
电容

无得卖的啰,私人订制的

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发表于 2009-8-7 11:54 | 显示全部楼层
原帖由 Ziv 于 2009-8-7 10:03 发表


"二是通过内部的DA,用数字方法生成测试信号,然后用DSP分析仪来测量,但仅限于SMPTE/DIN"

用数字方法生成测试信号输出来也是模拟信号.只是产生信号源的方式不同,更偏向用数字产生的.

采用DA产 ...


Ziv老兄对自己的文章还是很认真的。

我觉得Ziv对两段原文的理解还不是很到位,引用的原文并没能证明他想表述的观点。不过这里不是讨论英文的地方,也就不计较了。
简单的说如果有IMD选件,则既可以用IMD也可以用IMD(DA)来产生测试信号,同时也既可以用模拟分析仪也可以用DSP分析仪测量。
如果没有IMD选件,则只能用IMD(DA)来产生测试信号,且只能用DSP分析仪测量,且读数仅限于SMPTE/DIN。
后者是免费的功能,前者是要花钱的,一般来讲应该还是花钱的精度高些。

对了,我注意到THD+N的测量和IMD的测量不是在同一个功率下进行的。测THD+N时用1.03V的激励在4欧负载上产生了30.24W的输出,而测IMD时用1.00V的激励只在4欧负载上产生了14.27W的输出。所以说放大器的增益也不同。测量条件不同没关系,但是要在同等条件下与其他的电路比较才有意义。

SMPTE/DIN的差频测试方法虽然标准,但对高保真功放而言条件不够苛刻,换言之目前大多数Hifi功放都可以比较轻松地获得好的成绩。所以像Stereophile这类机构经常用更变态的19Khz+20khz CCIF信号。

最后一点有点吹毛求疵了。Ziv在用DSP分析仪的时候用的是HiBW AD@256k。其实如果不是测量带宽要达到120kHz以上的话,用HiRes AD@64k会取得更低的测量底噪和更精确的结果。

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 楼主| 发表于 2009-8-7 12:13 | 显示全部楼层
两次测试分别是前天和今天两次做,前天部分你看过,所有测试条件一样,今天这次没有找只运放来做前放,功率自然要小.前提目的只对比下两个分析的区别.玩玩的也,免搞那么多事.为个测试又整出一堆东西来.


SMPTE/DIN测试是标准的就行.
上面都说是那是更变态的方法,只做理性的事就好了

测试FFT时带宽不够.不用HiBW AD@256k,说不定会有其它人又会提出不够.
这是采样率,曾对过几者间对这颗料相差极弱小,可不计.


#39已说过了不会再为玩玩的东东再去做提问式的测试,浪费和占用时间呀,各位有兴趣可以自己动动手

更新:何为有意义,何为无意义,只要是实际测试就有意义,玩得开心就是有意义, 如果这不是AP测试,说不定会有人找多种问题出来.
同为AP测试相同条件问题,我也曾在另一帖上与另一坛友交流过,用AP测试火牛配普通78XX做得底噪好过了电池,可那么长时间坛上AP用家无一人去点评一下客观条件
是合理的我会接收,想法太多的,有些事说多无宜.

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发表于 2009-8-7 12:14 | 显示全部楼层
其实好100倍只是个噱头!现在看楼主讲了更多,但我懂的却很少! 。但是却知道了OPA541比LM3886好听! 。我就心满意足了!

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发表于 2009-8-7 15:38 | 显示全部楼层
原帖由 Ziv 于 2009-8-7 12:13 发表
两次测试分别是前天和今天两次做,前天部分你看过,所有测试条件一样,今天这次没有找只运放来做前放,功率自然要小.前提目的只对比下两个分析的区别.玩玩的也,免搞那么多事.为个测试又整出一堆东西来.


SMPTE/ ...

如果lz一开始的测试做得滴水不漏也就不会有这么些问题了
想把测试数据做得禁得起推敲,不容易啊
没有人出来质疑,才说明实验做得无懈可击嘛。

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 楼主| 发表于 2009-8-7 15:50 | 显示全部楼层
你这样说就不对了,有问题改善就好,与滴水不漏扯不上,又不是在做假!技术操作上的问题早说了,是合理的我会接收,说多无宜.有必要再讨论吗?除非你不认同更新后的测试方法!可是你提出来的呀

simmconn老兄是AP的用家,又在坛上这些时间,肯定是位与音响类产品有关朋友,想必中间帮朋友和自己也做过不少功放类玩样的测试吧?不如放些上来共享下AP测试方法和过程呀  这样做才是有意义的事.

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发表于 2009-8-7 19:32 | 显示全部楼层
原帖由 Ziv 于 2009-8-7 15:50 发表
你这样说就不对了,有问题改善就好,与滴水不漏扯不上,又不是在做假!技术操作上的问题早说了,是合理的我会接收,说多无宜.有必要再讨论吗?除非你不认同更新后的测试方法!可是你提出来的呀

simmconn老兄是A ...

支持一下。

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发表于 2009-8-7 22:03 | 显示全部楼层
继续关注,挺感兴趣这个片片,希望不要被炒起来哦

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发表于 2009-8-8 02:55 | 显示全部楼层
原帖由 Ziv 于 2009-8-7 15:50 发表
你这样说就不对了,有问题改善就好,与滴水不漏扯不上,又不是在做假!技术操作上的问题早说了,是合理的我会接收,说多无宜.有必要再讨论吗?除非你不认同更新后的测试方法!可是你提出来的呀

simmconn老兄是A ...


操作上的疏漏和作假是本质上截然不同的两回事。这里没有人暗示或指责LZ有任何作假行为,只是指出最初的测试操作上恐有疏漏。
没有疏漏既是“滴水不漏”,难道是我词不达意?

我的工作与音响沾点边,但绝无机会测试功放或前置,所以很遗憾,我无法提供这方面的例子。即使能提供,作为一个打工的,也不应该在公共论坛上讨论与自己工作有关的技术细节,这是起码的职业道德准则。我提供的建议与意见只能是一般性的,例如“不应该用不存在的硬件选件做测试”等等。我觉得一般性的经验对大家更有帮助。我认为讨论音频测试的原理、方法和注意事项,比简单的讲两块IC甲比乙好更有帮助。LZ不必同意我的观点,但即使不同意,我也仍然有发言的权利,LZ反复说“说多无宜”,无非就是让我闭嘴。有必要吗?

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 楼主| 发表于 2009-8-8 03:03 | 显示全部楼层
"合理的我会接收,说多无宜.有必要再讨论吗?"

说得“说多无宜”,如果你看成是让你闭嘴,只能说是理解的问题,或是有些负气了
大可不必

你的建议已经接受后,还一味要谈测试,就说了"合理的我会接收,说多无宜.有必要再讨论吗?"



永远还是那句-合理的我会接收   

相信坛中是讲人权 ,无过坛规,没有人有权利让人不发言的吧


相信坛中有许多是从事音响业的,打工者也不少,在公共论坛上讨论与音响技术与职业道德准则没有冲突.只要不讨论公司的产品技术和工作的技术细节就好了.
我也是跟你一样,但讨论的是OPA541,还没见那间公司将它做成音响产品在发售吧

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 楼主| 发表于 2009-8-8 03:34 | 显示全部楼层
你用AP测试的也很好呀

例子
http://bbs.hifidiy.net/viewthrea ... p;extra=&page=1

这帖上#28 我提了一个质疑问题,在公共论坛发表的与你现在工作肯定没有关系,可否指教

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发表于 2009-8-8 05:05 | 显示全部楼层

已回了

我在65楼提出的:
最后一点有点吹毛求疵了。Ziv在用DSP分析仪的时候用的是HiBW AD@256k。其实如果不是测量带宽要达到120kHz以上的话,用HiRes AD@64k会取得更低的测量底噪和更精确的结果。

其理由是错的,结论就没有意义。这不是个人偏好问题。不知道有没有人能够从SMPTE IMD测量原理的角度指出我错在哪里?(这是一般性的错误,与AP没有太大的关系)

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 楼主| 发表于 2009-8-8 05:16 | 显示全部楼层
已回了

再看看吧,说得越多质疑越多
http://bbs.hifidiy.net/viewthrea ... p;page=2#pid6034917

不过是越来越清楚了

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 楼主| 发表于 2009-8-8 05:18 | 显示全部楼层
原帖由 simmconn 于 2009-8-8 05:05 发表
我在65楼提出的:

其理由是错的,结论就没有意义。这不是个人偏好问题。不知道有没有人能够从SMPTE IMD测量原理的角度指出我错在哪里?(这是一般性的错误,与AP没有太大的关系)



上面你是用了吹毛求疵来说这个,现在又说是这是一般性的错误
上面已答了你,这是采样率,曾对过这一栏所有选项不同采样率对过结果。
包括你提的用HiRes AD@64k会取得更低的测量底噪和更精确的结果,但相差极弱小,可不计。

不如你先实际试下



再说个不放,也是无结果的事,不回了 ,睡了

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发表于 2009-8-8 06:29 | 显示全部楼层
我说我犯了一个一般性的错误,意思是这个错误与用不用ap测量关系不大。不用实测,我相信你的结果是正确的。
我的问题是,有没有人能解释这个现象:为什么用不同的采样率,测量系统的低噪也不同,IMD的测量结果其区别却微乎其微?
要知其然,还要知其所以然哦。

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 楼主| 发表于 2009-8-8 11:52 | 显示全部楼层

低噪
总谐波失真加噪声(THD+N) 这个N就是指噪声。这个失真数据是包括测量系统的低噪和被测物的底噪。AP测量系统的低噪本身就好小,如果被测试物的失真在如0.01%时,这种影响自然会极弱小。

IMD的测量值在0.01时  测量系统的低噪影响

IMD的测量的定义,你是住在西8区的洋人老兄呀 ,查这些学术资料更方便,知其所以然了
http://bbs.hifidiy.net/viewthrea ... p;extra=#pid6036608

我们的讨论,我到此为止,复得太累啰。你那边条件好营养好,我在大陆这些条件就差得远了
你有空多给些西8区的技术性的发帖,我会极积跟进了解西8区的技术呀

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发表于 2009-8-8 14:38 | 显示全部楼层
原帖由 Ziv 于 2009-8-8 11:52 发表

低噪
总谐波失真加噪声(THD+N) 这个N就是指噪声。这个失真数据是包括测量系统的低噪和被测物的底噪。AP测量系统的低噪本身就好小,如果被测试物的失真在如0.01%时,这种影响自然会极弱小。

IMD的测量 ...


解铃还须系铃人,还是我自己出来解释清楚吧,也顺便在贴上加一些技术成分,省得再被打发到回收站去

LS所言在THD+N测试中,如果测量系统本身固有噪声很小,对测量结果的影响就很小,这个分析和结论都是正确的,只是把THD+N的分析套用在IMD上稍有些牵强。毕竟THD+N的测试方法与IMD的测试方法是不同的。

THD+N的测试方法大家都熟悉,就不多说了,放在这里只是做个比较:

THD+N测量原理

THD+N测量原理

IMD根据测试信号类型的不同,测试方法也不尽相同。以本帖讨论的SMPTE/DIN信号为例,被测设备的输出首先经过一个高通滤波器,目的是滤除SMPTE双频信号中的低频成分F1。滤波后的信号进入一个调幅检波器,以检出互调失真成分。为什么要用检波器呢?因为互调失真关心的是双频信号中高频成分F2附近新产生的F2±nF1的“边带”成分。一般来说只需测量n=1和n=2的情况(参考IEC 60268-3)。在F1/F2足够小的情况下,边带成分与F2相距很近,用调幅检波器就可以相当精确地检出。后面的高通滤波器进一步滤除F2的成分,最终在真有效值表上读数。

IMD测量原理

IMD测量原理

IMD的频谱:

IMD的频谱

IMD的频谱

这个测量方法听上去好像很传统。考虑到SMPTE的IMD测量方法在上世纪30年代末就已经提出,那时候的音频测试仪器水平也就可想而知了。

根据SMPTE IMD测试方法可见,其测量设备不需要很高的带宽(有效值表能准确检出2倍F1及以下的信号就行了),对被测系统的THD和噪声也不敏感。
所以说用DSP分析仪测量不需要宽带的AD;如果用了宽带的AD,其较高的底噪也不会影响测量结果,因为测试原理本身就对噪声不敏感。

最后我要感谢Ziv,如果不是我们的争论我也不会有机会学习IMD的测量原理,从而发现自己先前理解上的错误。

插图截自AP出版的《音频测量手册》(AUDIO MEASUREMENT HANDBOOK)以及RS出版的《按照IEC60268-3测试音频放大器》(Tests of Audio Amplifiers
in Accordance with Standard IEC 60268-3)
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